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一种软件缺陷预测方法、装置、电子设备及计算机存储介质

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010222414.4
  • IPC分类号:G06F11/36;G06K9/62
  • 申请日期:
    2020-03-26
  • 申请人:
    中南大学
著录项信息
专利名称一种软件缺陷预测方法、装置、电子设备及计算机存储介质
申请号CN202010222414.4申请日期2020-03-26
法律状态公开申报国家中国
公开/公告日2020-08-11公开/公告号CN111522736A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F11/36IPC分类号G;0;6;F;1;1;/;3;6;;;G;0;6;K;9;/;6;2查看分类表>
申请人中南大学申请人地址
湖南省长沙市岳麓区麓山南路932号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中南大学当前权利人中南大学
发明人张叶迪;李祖德
代理机构广州嘉权专利商标事务所有限公司代理人肖云
摘要
本发明提供了一种软件缺陷预测方法、装置、电子设备及计算机存储介质,该方法先获得原始缺陷数据集,再获得类分布平衡的缺陷数据集,最后构建软件缺陷预测模型,能够获得比单一学习器更好的泛化性能。

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