基于双光栅剪切干涉的一体化激光材料热效应测量装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201711278725.7
IPC分类号：G01N21/01;G01N21/84
申请日期：
2017-12-06
申请人：
西南技术物理研究所

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著录项信息

专利名称	基于双光栅剪切干涉的一体化激光材料热效应测量装置
申请号	CN201711278725.7	申请日期	2017-12-06
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2018-06-29	公开/公告号	CN108226036A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/01 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/01 便于进行光学测试的装置或仪器〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;0;1;;;G;0;1;N;2;1;/;8;4查看分类表>
申请人	西南技术物理研究所	申请人地址	四川省成都市武侯区人民南路四段七号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西南技术物理研究所	当前权利人	西南技术物理研究所
发明人	陈好;蒋泽伟;贾静;张浩;樊红英;胡绍云;孟庆安;王询;何易德
代理机构	中国兵器工业集团公司专利中心	代理人	刘二格

摘要

本发明公开了一种基于双光栅剪切干涉的一体化激光材料热效应测量装置，光纤激光器出射标准球面波，经准直物镜产生标准平面波前，被测激光材料放置于两平面反射镜之间，标准平面波前依次经两平面反射镜反射，方向发生180°改变，标准平面波前经过被测激光材料后携带被测激光材料的热效应信息，由分光镜分为两束，一束为热效应焦距参数测量光束，进入热效应焦距参数测量模块，进行热效应焦距参数测量，另一束为波像差参数测量光束，进入波像差参数测量模块，进行波像差参数测量。本发明基于双光栅剪切干涉技术，具有光轴辅助调节功能，系统结构简单、操作方便、测量精度高，可实现等效焦距和等效波像差的同步测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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