一种射频开关响应时间的测试方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202011389499.1
IPC分类号：G01R31/327;G01R31/28
申请日期：
2020-12-02
申请人：
佛山市联动科技股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种射频开关响应时间的测试方法及系统
申请号	CN202011389499.1	申请日期	2020-12-02
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2021-01-08	公开/公告号	CN112198428A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/327 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/327 电路断续器、开关或电路断路器的测试〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;2;7;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	佛山市联动科技股份有限公司	申请人地址	广东省佛山市南海国家高新区新光源产业基地光明大道16号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	佛山市联动科技股份有限公司	当前权利人	佛山市联动科技股份有限公司
发明人	刘旭伟;莫松安;谷颜秋
代理机构	广州嘉权专利商标事务所有限公司	代理人	邓易偲

摘要

本发明公开了一种射频开关芯片响应时间的测试方法及系统，所述方法包括ATE射频信号源以预设的频率和功率输出发射信号给待测射频开关；数字信号处理器输出DUT控制信号给待测射频开关以控制待测射频开关的状态；ATE射频接收机接收待测射频开关输出的发射信号，对接收的信号进行处理，将处理后的接收信号发送给数字信号处理器；数字信号处理器对处理后的接收信号进行处理，输出测试结果；所述系统包括数字信号处理器、ATE射频信号源、ATE射频接收机和待测射频开关。本发明在信号接收机的基础上经过数字域处理，不受检波器的时间响应影响，不受示波器的分析带宽的影响，可处理信号带宽宽，提高ATE设备的测试速率，降低硬件复杂性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供