用于识别材料中的缺陷的系统和方法

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专利名称	用于识别材料中的缺陷的系统和方法
申请号	CN201210297100.6	申请日期	2012-08-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-06-05	公开/公告号	CN103134807A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/88 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;8;;;G;0;6;T;7;/;0;0查看分类表>
申请人	康耐视公司	申请人地址	美国马萨诸塞州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	康耐视公司	当前权利人	康耐视公司
发明人	王晓光
代理机构	上海专利商标事务所有限公司	代理人	刘佳

摘要

所描述的是用于识别材料中的缺陷的基于计算机的方法和装置，包括计算机程序产品。基于材料的图像来识别一组特征，其中该组特征中的每个特征是材料中缺陷的候选部分。基于该组特征选择一组链式特征，其中每个链式特征包括表示材料中相同缺陷的候选部分的一个或多个特征。基于该组链式特征和图像来识别材料中的缺陷。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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