一种测试电子产品关机温度的系统和方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201110440540.8
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2011-12-26
申请人：
比亚迪股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种测试电子产品关机温度的系统和方法
申请号	CN201110440540.8	申请日期	2011-12-26
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-06-26	公开/公告号	CN103176071A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	比亚迪股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市坪山新区比亚迪路3009号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	比亚迪股份有限公司	当前权利人	比亚迪股份有限公司
发明人	宫清;宋以鹰;叶迪峰;吴知东
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供了一种测试电子产品关机温度的系统，包括控制器、温控箱、置于温控箱中的被测试部件、及给被测试部件供电的电源，所述控制器控制温控箱的温度及电源的开关；还包括继电器，所述被测试部件包括用于启动该测试部件的常开触点开关，所述继电器的常开触点与所述常开触点开关并联，所述继电器的线圈绕组串联在电源回路中，所述控制器控制电源给继电器供电。本发明通过继电器的导通来开启被测试部件，从而可以在被测试部件由于受温差影响导致其不正常关机时，可以重启被测试部件并监控其运行情况，以此来确定测试结果是否精确。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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