老化测试扩展板

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201720098387.8
IPC分类号：G01R1/04
申请日期：
2017-01-26
申请人：
中芯国际集成电路制造（北京）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司

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著录项信息

专利名称	老化测试扩展板
申请号	CN201720098387.8	申请日期	2017-01-26
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/04 外壳；支承构件；端子装置	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	中芯国际集成电路制造（北京）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司	申请人地址	北京市大兴区经济技术开发区（亦庄）文昌大道18号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中芯国际集成电路制造（北京）有限公司,中芯国际集成电路制造（上海）有限公司	当前权利人	中芯国际集成电路制造（北京）有限公司,中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
发明人	赵广艳
代理机构	上海光华专利事务所	代理人	余明伟

摘要

本实用新型提供一种老化测试扩展板，包括扩展板主体，所述扩展板主体内包括：第一插接区域，适于插接用于老化测试的待测器件的插座；第二插接区域，适于插接用于老化测试的待测器件的插座；转接区域，位于所述第一插接区域与所述第二插接区域之间，且与所述第一插接区域及所述第二插接区域相连接，适于将所述第一插接区域及所述第二插接区域相连接。本实用新型的老化测试扩展板可以与现有的老化测试板及待测器件底座配合使用，资源容量至少相当于现有老化测试板的两倍，从而增加了一次老化测试中的待测器件的数量，缩短了产品测试验证周期；本实用新型的老化测试扩展板还具有结构简单、公用性强等优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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