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落雷密度统计方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200810041570.X
  • IPC分类号:G01W1/00
  • 申请日期:
    2008-08-11
  • 申请人:
    华东电力试验研究院有限公司
著录项信息
专利名称落雷密度统计方法
申请号CN200810041570.X申请日期2008-08-11
法律状态驳回申报国家暂无
公开/公告日2010-02-17公开/公告号CN101650444
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01W1/00IPC分类号G;0;1;W;1;/;0;0查看分类表>
申请人华东电力试验研究院有限公司申请人地址
上海市邯郸路171号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华东电力试验研究院有限公司当前权利人华东电力试验研究院有限公司
发明人顾承昱;李福兴;赵文彬
代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)代理人郑玮
摘要

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