加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

一种磁保持继电器超行程测量系统

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN201220643101.7
  • IPC分类号:H01H50/00
  • 申请日期:
    2012-11-29
  • 申请人:
    上海亚银电器制造有限公司
著录项信息
专利名称一种磁保持继电器超行程测量系统
申请号CN201220643101.7申请日期2012-11-29
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01H50/00IPC分类号H;0;1;H;5;0;/;0;0查看分类表>
申请人上海亚银电器制造有限公司申请人地址
上海市嘉定区南翔镇蕰北公路1755弄33号2楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海亚银电器制造有限公司当前权利人上海亚银电器制造有限公司
发明人杨继红;程铭
代理机构上海汉声知识产权代理有限公司代理人胡晶
摘要
本实用新型公开了一种磁保持继电器超行程测量系统,包括继电器,所述继电器还包括定位片,所述定位片上开设有小孔所述继电器还包括轭铁和衔铁,所述轭铁和衔铁接触位置相对应的定位片上开设一小孔;这种磁保持继电器超行程测量系统将定位片上挡住的位置让开,可测量继电器超行程大小。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供