一种射流质量流量测量方法及测量装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201110314436.4
IPC分类号：G01F1/88
申请日期：
2011-10-17
申请人：
南京航空航天大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种射流质量流量测量方法及测量装置
申请号	CN201110314436.4	申请日期	2011-10-17
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-02-29	公开/公告号	CN102364308A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01F1/88 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01F 容积、流量、质量流量或液位的测量；按容积进行测量〔2，5〕 G01F1/00 测量连续通过仪表的流体或流动固体材料的流量或质量流量（测量流量比例入G01F 5/00）〔2〕 G01F1/76 测量流体或流动固体材料质量流量的装置〔2〕 G01F1/86 间接式质量流量计，例如，测量流量、密度、温度或压力〔2〕 G01F1/88 测量压差以确定流量〔2〕	IPC分类号	G;0;1;F;1;/;8;8查看分类表>
申请人	南京航空航天大学	申请人地址	江苏省南京市御道街29号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南京航空航天大学	当前权利人	南京航空航天大学
发明人	白亚磊;钟伟;李鹏
代理机构	南京经纬专利商标代理有限公司	代理人	许方

摘要

本发明公开了一种射流质量流量测量方法，属于流体测量技术领域。本发明的测量方法利用射流振荡元件喷嘴处的质量流量，与射流喷嘴、射流出口之间差压的平均值和射流振荡频率的比值之间成正比的关系，可直接测量得到质量流量。本发明还公开了一种射流质量流量测量装置，利用差压传感器实时测量射流喷嘴、射流出口之间差压，然后通过计算得到射流质量流量。相比现有技术，本发明不需要进行温差补偿即可直接得到射流的质量流量，测量装置的结构更简单，成本更低，测量误差更小。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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