高精度光矢量分析装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110921826.1
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2021-08-12
申请人：
武汉昊衡科技有限公司

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著录项信息

专利名称	高精度光矢量分析装置及方法
申请号	CN202110921826.1	申请日期	2021-08-12
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-09-10	公开/公告号	CN113375913A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	武汉昊衡科技有限公司	申请人地址	湖北省武汉市东湖新技术开发区东信路SBI创业街1栋9层02室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉昊衡科技有限公司	当前权利人	武汉昊衡科技有限公司
发明人	王辉文;刘晓平;张晓磊;温永强;张晓乔
代理机构	湖北武汉永嘉专利代理有限公司	代理人	许美红

摘要

本发明公开了一种高精度光矢量分析装置，该装置中，光源发出的扫频激光分别进入第一干涉光路、第二干涉光路；第一干涉光路工作时，第一测量信号经过待测器件后与参考信号发生拍频干涉，并由偏振分束器将产生的拍频信号分为偏振态相互垂直的两路，分别为第一、第二拍频信号；第二干涉光路工作时，偏振方向与第一测量信号垂直的第二测量信号经过待测器件后与参考信号发生拍频干涉产生第三、第四拍频信号；处理四个拍频信号得到待测器件的琼斯矩阵，进而可获得器件光学参数。本发明能实现器件全波长范围内幅频响应的高精度测量并间接获得其他光学参数，简单便捷，有效缩短了测量时间。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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