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非接触式检测设备

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201420152636.3
  • IPC分类号:G01N21/88;G01B11/22;G01B11/02
  • 申请日期:
    2014-03-31
  • 申请人:
    中科华核电技术研究院有限公司;中国广核集团有限公司
著录项信息
专利名称非接触式检测设备
申请号CN201420152636.3申请日期2014-03-31
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/88IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;8;8;;;G;0;1;B;1;1;/;2;2;;;G;0;1;B;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人中科华核电技术研究院有限公司;中国广核集团有限公司申请人地址
广东省深圳市福田区上步中路西深圳科技大厦15层(1502-1504、1506) 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国广核集团有限公司,中广核研究院有限公司当前权利人中国广核集团有限公司,中广核研究院有限公司
发明人陈嘉杰;刘青松;张涛;蒋良中;余冰;李晓;钱建华;董亚超;李志
代理机构广州三环专利代理有限公司代理人张艳美;陈进芳
摘要
本实用新型公开一种非接触式检测设备,其包括检测装置、X轴机械手、Y轴移载平台及下部适配板部件;Y轴移载平台的下端固定于下部适配板部件且其上设置有可沿Y轴方向移动的Y轴联接座,Y轴联接座的上端与X轴机械手的下端固定连接;X轴机械手上设置有可沿X轴方向移动的X轴联接座,检测装置的一端固定X轴联接座,另一端分别设置有可沿Z轴方向移动的视觉检测机构及位移检测机构。本实用新型用于对抛光后的表面进行图像采集及测量,获取抛光后表面缺陷的尺寸信息,为修复提供数据支持,适于精密表面无损及在线三维检测;且其结构紧凑,减少设备整体尺寸及体积,实现检测设备的小型化及便携化,使用时占据较小的使用空间,适用于多种工作环境。

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