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In-Ga-O系氧化物烧结体、靶、氧化物半导体薄膜以及它们的制造方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201180004849.0
  • IPC分类号:C04B35/00;C23C14/08;C23C14/34;H01L21/203
  • 申请日期:
    2011-01-14
  • 申请人:
    出光兴产株式会社
著录项信息
专利名称In-Ga-O系氧化物烧结体、靶、氧化物半导体薄膜以及它们的制造方法
申请号CN201180004849.0申请日期2011-01-14
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2012-08-29公开/公告号CN102652119A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C04B35/00IPC分类号C;0;4;B;3;5;/;0;0;;;C;2;3;C;1;4;/;0;8;;;C;2;3;C;1;4;/;3;4;;;H;0;1;L;2;1;/;2;0;3查看分类表>
申请人出光兴产株式会社申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人出光兴产株式会社当前权利人出光兴产株式会社
发明人江端一晃;笘井重和;矢野公规
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人翟赟琪
摘要
一种氧化物烧结体,其中,实质上结晶结构由显示出方铁锰矿结构的氧化铟构成,镓原子固溶在上述氧化铟中,原子比Ga/(Ga+In)为0.10~0.15。

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