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一种大面积柔性疏水多孔硅膜的制备方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201711464718.6
  • IPC分类号:C09K3/18;C23F1/24;C23F1/02;C23C30/00
  • 申请日期:
    2017-12-28
  • 申请人:
    肇庆市华师大光电产业研究院
著录项信息
专利名称一种大面积柔性疏水多孔硅膜的制备方法
申请号CN201711464718.6申请日期2017-12-28
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2018-07-24公开/公告号CN108314993A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C09K3/18IPC分类号C;0;9;K;3;/;1;8;;;C;2;3;F;1;/;2;4;;;C;2;3;F;1;/;0;2;;;C;2;3;C;3;0;/;0;0查看分类表>
申请人肇庆市华师大光电产业研究院申请人地址
广东省肇庆市高新区北江大道18号富民大厦3-304 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人肇庆市华师大光电产业研究院当前权利人肇庆市华师大光电产业研究院
发明人金名亮;卢涵;水玲玲;周国富
代理机构广州粤高专利商标代理有限公司代理人陈卫
摘要
本发明公开了一种大面积柔性疏水多孔硅膜的制备方法,包括以下步骤:在(100)晶向的单晶硅片上旋涂一层光刻胶;在此硅片上制备光刻胶图形阵列;在光刻胶图形阵列表面镀一层金属膜;移除光刻胶和镀在光刻胶上的金属膜,得到带有金属网格图形的单晶硅片;将此的单晶硅片放入氢氟酸和双氧水的混合溶液中进行金属辅助蚀刻,形成多孔硅膜;将多孔硅膜冲洗干净,干燥,使得多孔硅膜自行剥离;用有粘性的柔性基底粘附多孔硅膜,得到大面积柔性疏水多孔硅膜;其中,单晶硅片电阻率为0.001~0.005Ω·cm。本发明生产成本低,工艺简单,该方法制备出的多孔硅膜为柔性疏水的,疏水效果好,可粘附在任意材料、任意形状的基底上,可剪裁成任意形状,并且保持硅原有性能;具有巨大的应用前景。

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