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大颗粒物料的近红外光谱分析装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201521140478.0
IPC分类号：G01N21/359;G01N21/3563
申请日期：
2015-12-31
申请人：
聚光科技（杭州）股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	大颗粒物料的近红外光谱分析装置
申请号	CN201521140478.0	申请日期	2015-12-31
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/359 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/25 颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响〔3〕 G01N21/31 测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术〔3〕 G01N21/35 利用红外光（G01N 21/39优先）〔3，2014.01〕 G01N21/359 利用近红外光〔2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;3;5;9;;;G;0;1;N;2;1;/;3;5;6;3查看分类表>
申请人	聚光科技（杭州）股份有限公司	申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨安路760号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	聚光科技（杭州）股份有限公司	当前权利人	聚光科技（杭州）股份有限公司
发明人	周新奇;韩双来;郭中原;杨伟伟;陈胜福;慎石磊;张丹;胡杰;吴键波
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型提供了一种大颗粒物料的近红外光谱分析装置，所述近红外光谱分析装置包括分析仪表；采样单元，所述采样单元用于采样待测样品，并送粉碎单元；粉碎单元，所述粉碎单元用于粉碎传送来的待测样品，粉碎后的待测样品送分析仪表分析；留样单元，所述留样单元安装在所述粉碎单元的下游，用于留样分析后的待测样品。本实用新型具有精度高等优点。

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