紧凑的三波横切型消色差光学干涉仪

发明专利有效专利

申请号：
CN200780006664.7
IPC分类号：G01J9/02
申请日期：
2007-01-16
申请人：
ONERA（法国宇航院）

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法律信息

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著录项信息

专利名称	紧凑的三波横切型消色差光学干涉仪
申请号	CN200780006664.7	申请日期	2007-01-16
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2009-03-18	公开/公告号	CN101389938
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J9/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J9/00 测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长（光谱测定法入G01J 3/00）〔3〕 G01J9/02 采用干涉法〔3〕	IPC分类号	G;0;1;J;9;/;0;2查看分类表>
申请人	ONERA（法国宇航院）	申请人地址	法国沙蒂永变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	法国宇航院（ONERA）	当前权利人	法国宇航院（ONERA）
发明人	J·普里莫特;N·盖里诺;S·韦尔盖
代理机构	上海专利商标事务所有限公司	代理人	刘佳

摘要

一种分析光束波阵面的方法与系统，其中衍射光栅(GR)安置在垂直于待分析光束且光学共轭于分析平面的平面内。光栅不同的呈现光束相干涉而生成图像，该图像具有与等待分析波阵面的梯度相关的变形。本方法的特征在于，光栅(GR)执行强度函数与相位函数的相乘；强度函数由带六边形表面S网格的二维光栅(GI)实现，六边形表面S网格将待分析束的光透射成多条排列在六边形网格中的呈现光束；相位函数由带六边形表面3S网格的二维实现，六边形表面3S网格在两条相邻次级光束之间引起接近2π/3(模2π)的相移。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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