一种宽量程小型化空间质子探测器及探测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010925741.6
IPC分类号：G01T1/38
申请日期：
2020-09-04
申请人：
兰州空间技术物理研究所

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专利名称	一种宽量程小型化空间质子探测器及探测方法
申请号	CN202010925741.6	申请日期	2020-09-04
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-12-29	公开/公告号	CN112147668A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T1/38 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T1/00 X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量（G01T 3/00，G01T 5/00优先）〔2〕 G01T1/36 测量X射线或核辐射的能谱分布 G01T1/38 粒子甄别和相对质量的测量；例如，测量能量损耗与距离的关系（dE/dx）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;T;1;/;3;8查看分类表>
申请人	兰州空间技术物理研究所	申请人地址	甘肃省兰州市城关区渭源路97号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	兰州空间技术物理研究所	当前权利人	兰州空间技术物理研究所
发明人	张晨光;安恒;李得天;王鷁;张剑锋;文轩;李存惠;杨生胜;秦晓刚;曹洲
代理机构	北京亿次方科创知识产权代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本发明涉及空间辐射环境探测技术领域，尤其涉及一种宽量程小型化空间质子探测器及探测方法，包括低能探测区和高能探测区，其中低能探测区用于探测鉴别中能质子，设置有石墨烯薄膜、微通道板以及第一探测器，高能探测区用于探测鉴别高能质子，设置有第二探测器、Ta降能片以及第三探测器；第一探测器、第二探测器、Ta降能片以及第三探测器由薄到厚依次排列，本发明通过石墨烯薄膜+硅半导体的方法对低能段的中能质子进行探测鉴别，通过硅半导体+Ta降能片+闪烁晶体构成的望远镜式探测方法对高能段的高能质子进行探测鉴别，测量范围大，测量量程宽，同时减小了探测器的尺寸，实现了探测器小型化的设计，可以满足军星搭载以及微纳卫星的需求。

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