一种大口径平面反射镜加工与检测坐标系对准方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201710134903.2
IPC分类号：G01B21/00
申请日期：
2017-03-07
申请人：
湖北航天技术研究院总体设计所

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著录项信息

专利名称	一种大口径平面反射镜加工与检测坐标系对准方法
申请号	CN201710134903.2	申请日期	2017-03-07
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-06-20	公开/公告号	CN106871831A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;0;0查看分类表>
申请人	湖北航天技术研究院总体设计所	申请人地址	湖北省武汉市金山大道9号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	湖北航天技术研究院总体设计所	当前权利人	湖北航天技术研究院总体设计所
发明人	闫力松;李强;姜永亮;许伟才;胡黎明;王玉雷;胡海力;兰硕;杨小威
代理机构	武汉智汇为专利代理事务所（普通合伙）	代理人	樊黎

摘要

本发明公开了一种大口径平面反射镜加工与检测坐标系对准方法，包括靶标设置步骤，测量各靶标对应的检测位置坐标步骤，测量各靶标对应的加工位置坐标步骤，检测位置坐标换算步骤，拟合步骤。通过在大口径平面反射镜镜面粘贴i个靶标，利用检测仪器测量各靶标对应的检测位置坐标，将大口径平面反射镜移至加工设备，利用加工测头测量各靶标的加工位置坐标，对靶标在加工坐标系内测量结果与其在检测坐标系内测量结果的关系进行数学换算，可以得出经过变换后的坐标结果，用数学方法拟合，求得加工坐标系与检测坐标系的变换关系，从而将面形检测结果换算到加工坐标系内，进行加工坐标系与检测坐标系对准，提高了生产效率，同时保障了产品质量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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