待测器件和测试头之间的通用测试接口

发明专利无效专利

申请号：
CN02800678.X
IPC分类号：G01R31/319;G01R1/073;G01R1/067
申请日期：
2002-03-13
申请人：
爱德旺太斯特株式会社

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著录项信息

专利名称	待测器件和测试头之间的通用测试接口
申请号	CN02800678.X	申请日期	2002-03-13
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2004-05-05	公开/公告号	CN1494659
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/319 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕 G01R31/3181 性能测试（G01R 31/3177优先）〔6〕 G01R31/319 测试器硬件，即输出处理电路〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;9;;;G;0;1;R;1;/;0;7;3;;;G;0;1;R;1;/;0;6;7查看分类表>
申请人	爱德旺太斯特株式会社	申请人地址	日本东京变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	爱德旺太斯特株式会社	当前权利人	爱德旺太斯特株式会社
发明人	詹姆士·沃伦·弗雷姆
代理机构	北京三友知识产权代理有限公司	代理人	李辉

摘要

为了在容纳待测器件(DUT)的DUT板和连接到测试头的电缆之间形成模块化接口，提供一个具有连接器阵列的板垫块。每个电缆连接到一个相应的连接器，并且DUT板包含一个对应的连接点阵列，连接点的数量等于或小于板垫块上的阵列中的连接器的数量。以此方式，可以使用一个公共板垫块来把电缆连接到容纳不同类型DUT的DUT板，因为板垫块上的连接点的位置是已知的并且保持恒定。该接口允许测试头和DUT上器件之间的用于超过50MHz频率的高速和高保真度连接。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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