一种低维材料微扭转力学性能测试装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201110049785.8
IPC分类号：G01N3/22
申请日期：
2011-03-02
申请人：
华中科技大学

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著录项信息

专利名称	一种低维材料微扭转力学性能测试装置
申请号	CN201110049785.8	申请日期	2011-03-02
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2011-09-14	公开/公告号	CN102183418A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N3/22 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N3/00 用机械应力测试固体材料的强度特性 G01N3/22 施加稳定的扭力（G01N 3/26，G01N 3/28优先）	IPC分类号	G;0;1;N;3;/;2;2查看分类表>
申请人	华中科技大学	申请人地址	湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华中科技大学	当前权利人	华中科技大学
发明人	何玉明;刘大彪;丁华明;胡鹏
代理机构	华中科技大学专利中心	代理人	曹葆青

摘要

一种低维材料微扭转力学性能测试装置，包括机架、力传感器、微扭矩传感器、扭丝转角测量组件、上、下夹头、步进电机、三维平移台、丝杠螺母组件、伺服控制器、A/D采集卡和计算机系统。微扭矩传感器的扭丝两端张紧固定在支架上，具有很好的刚度和稳定性，还可通过对扭丝的更换来调整测量范围。另外，微扭矩传感器的上端安装有力传感器，可实时检测扭转测试过程中轴向力大小。本发明采用光靶和光电位移传感器相结合的方式测量扭丝的转角，和传统的光杠杆法相比，结构紧凑，自动化程度高，稳定性好。通过调节三维平移台实现上、下夹持点的对中。计算机系统可实时获取试样的扭矩-转角曲线。本装置适用于各种低维材料的微扭转力学性能测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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