芯片测试与引脚复用单元、芯片测试与引脚复用方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110971169.1
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2021-08-24
申请人：
深圳英集芯科技股份有限公司

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著录项信息

专利名称	芯片测试与引脚复用单元、芯片测试与引脚复用方法
申请号	CN202110971169.1	申请日期	2021-08-24
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2021-09-21	公开/公告号	CN113419164A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	深圳英集芯科技股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷八栋(万科云城三期C区八栋)A座3104房研发用房变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳英集芯科技股份有限公司	当前权利人	深圳英集芯科技股份有限公司
发明人	郑文杰
代理机构	广州三环专利商标代理有限公司	代理人	熊永强

摘要

本申请实施例公开了芯片测试与引脚复用单元、芯片测试与引脚复用方法。芯片测试与引脚复用单元，应用于芯片，芯片包括M个芯片功能单元、M个引脚和芯片测试与引脚复用单元，芯片功能单元和引脚一一对应；芯片测试与引脚复用单元包括芯片测试模块、引脚复用模块、M个第一开关模块和M个第二开关模块，M的取值为大于1的整数，N的取值为M的取值的2倍，从而通过复用芯片已有芯片功能单元所对应的引脚以实现芯片测试，而无需额外为芯片测试新增独立的引脚，从而有利于减少芯片在设计、封装和集成等环节上的引脚，进而有利于减小芯片的体积，以及降低芯片在设计、集成和封装上的成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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