用于检测连接到智能插座的电子设备的方法和装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201480060745.5
IPC分类号：G01R31/00;G01R21/00
申请日期：
2014-11-04
申请人：
三星电子株式会社

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著录项信息

专利名称	用于检测连接到智能插座的电子设备的方法和装置
申请号	CN201480060745.5	申请日期	2014-11-04
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-06-22	公开/公告号	CN105705954A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;2;1;/;0;0查看分类表>
申请人	三星电子株式会社	申请人地址	韩国京畿道变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	三星电子株式会社	当前权利人	三星电子株式会社
发明人	朴英珍
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	张泓

摘要

本发明涉及用于从智能插座检测连接到智能插座的电子设备的方法和装置，并且更具体地涉及用于检测连接到智能插座的电子设备的改变的方法和装置。根据本发明的一个实施例的一种方法是用于从智能插座检测连接的电子设备的方法并且包括步骤：当电子设备被连接时，检验是否存在预先训练数据；当存在预先训练数据时，检验连接的电子设备和预先训练数据是否匹配；当连接的电子设备和预先训练数据不匹配时获取关于有效电力、无效电力和功率因数信息的训练步骤；以及在训练完成之后保存训练数据。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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