一种用于PCM聚焦系统磁场分布测量的装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201010291996.8
IPC分类号：G01R33/02
申请日期：
2010-09-26
申请人：
中国科学院电子学研究所

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著录项信息

专利名称	一种用于PCM聚焦系统磁场分布测量的装置
申请号	CN201010291996.8	申请日期	2010-09-26
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-04-11	公开/公告号	CN102411129A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R33/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R33/00 测量磁变量的装置或仪器 G01R33/02 测量磁场或磁通量的方向或大小（G01R 33/20优先）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;3;/;0;2查看分类表>
申请人	中国科学院电子学研究所	申请人地址	北京市海淀区北四环西路19号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院电子学研究所	当前权利人	中国科学院电子学研究所
发明人	赵鼎;陆熙;阮存军;王勇
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	周国城

摘要

本发明公开了一种用于PCM聚焦系统磁场分布测量的装置，涉及微波器件技术，包括四个主要部分：调节旋钮组件、磁钢固定板组件、矩形支架以及装置托架。该装置可以在一定范围内精确调节PCM聚焦系统中两组相对聚焦平面之间的距离，通过可拆卸机构可广泛适应不同的聚焦方案，并可为磁测量探针提供确定的运动路径。本发明装置针对带状电子注器件的研制和测试，具有调节精度高、通用性强、操作简便的优点，能够满足实际工程中对PCM聚焦系统进行精密调节和测量以及优选聚焦方案的要求。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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