一种金属导体表面和亚表面缺陷分类识别方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310080880.3
IPC分类号：G01N27/82
申请日期：
2013-03-14
申请人：
天津大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种金属导体表面和亚表面缺陷分类识别方法
申请号	CN201310080880.3	申请日期	2013-03-14
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-06-19	公开/公告号	CN103163211A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N27/82 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N27/00 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 25/00优先；电或磁变量的测量或试验，材料的电磁性能的测试或试验入G01R） G01N27/72 通过测试磁变量 G01N27/82 用于测试缺陷的存在	IPC分类号	G;0;1;N;2;7;/;8;2查看分类表>
申请人	天津大学	申请人地址	天津市南开区卫津路92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	天津大学	当前权利人	天津大学
发明人	王超;高鹏;李藩为
代理机构	天津市北洋有限责任专利代理事务所	代理人	程毓英

摘要

本发明属于无损检测技术领域，涉及一种金属导体表面和亚表面缺陷分类识别方法，该方法所采用的检测探头包括激励线圈、巨磁电阻传感器和永磁体，巨磁电阻传感器固定于激励线圈的底部，永磁体固定于激励线圈的外侧，方法为：将检测探头放置于被测试件表面，对激励线圈施加正弦信号，移动检测探头对被测试件进行扫描；对巨磁电阻传感器的输出信号进行滤波和放大处理；对经过滤波和放大处理的巨磁电阻传感器的输出信号进行解调，获得实部和虚部，得到幅值和相角信息；根据幅值和相角信息对扫描位置是否存在缺陷及缺陷类型进行判断。本发明可以直接快速对缺陷进行分类辨别，特征量明显，辨识准确。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供