光学薄膜X射线反射率、荧光强度及光谱数据处理方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310595101.3
IPC分类号：G01N23/20;G01N23/223
申请日期：
2013-11-21
申请人：
同济大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	光学薄膜X射线反射率、荧光强度及光谱数据处理方法
申请号	CN201310595101.3	申请日期	2013-11-21
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-03-05	公开/公告号	CN103616392A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/14 （转入G01N 23/083-G01N 23/087， G01N 23/12） G01N23/20 利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;0;;;G;0;1;N;2;3;/;2;2;3查看分类表>
申请人	同济大学	申请人地址	上海市杨浦区四平路1239号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	同济大学	当前权利人	同济大学
发明人	李文斌;杨晓月;王占山
代理机构	上海科盛知识产权代理有限公司	代理人	赵志远

摘要

本发明涉及一种光学薄膜X射线反射率、荧光强度及光谱数据处理方法，包括以下步骤：1)数据采集模块采集光学薄膜参数，并将其传输到数据调整模块；2)数据调整模块对接收到的数据进行调整后，传输给数据处理模块；3)数据处理模块根据光学薄膜参数数据计算反射率、荧光强度及荧光谱，并将计算结果发送给数据显示模块；4)数据显示模块将计算结果进行显示。与现有技术相比，本发明具有实现成本低、可靠性高、操作简单、直观性好、仿真性高等优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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