一种产品表面缺陷的检测方法、装置及存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN201910831247.0
IPC分类号：G06T7/00;G06T7/66;G06T7/11
申请日期：
2019-09-04
申请人：
北京理工大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种产品表面缺陷的检测方法、装置及存储介质
申请号	CN201910831247.0	申请日期	2019-09-04
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-11-29	公开/公告号	CN110517265A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;6;6;;;G;0;6;T;7;/;1;1查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	孟凡武;许一尘;王立忠
代理机构	北京超凡宏宇专利代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	宋朋飞

摘要

本申请提供一种产品表面缺陷的检测方法、装置及存储介质，该方法包括：获取包含有待检测产品的目标图像，其中，所述待检测产品表面具有多个待检测对象；对所述目标图像进行处理，获得多张待检测图像，其中，每张待检测图像中包括待检测产品的单个待检测对象；分别计算每张待检测图像对应的d个不变矩，并根据每张待检测图像的d个不变矩与预先获得的标准产品图像对应的d个标准不变矩，对所述待检测产品进行表面缺陷检测。本申请实施例针对表面具有多个待检测对象的被加工产品能够实现快速、简便的表面缺陷检测，不需要人工逐个进行辨认，检测效率更高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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