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一种柔性电子抗拉伸与抗挠曲性能测试系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201611234803.9
  • IPC分类号:G01N3/08;G01N3/20
  • 申请日期:
    2016-12-28
  • 申请人:
    华中科技大学;广东思谷智能技术有限公司
著录项信息
专利名称一种柔性电子抗拉伸与抗挠曲性能测试系统
申请号CN201611234803.9申请日期2016-12-28
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-05-17公开/公告号CN106680084A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N3/08IPC分类号G;0;1;N;3;/;0;8;;;G;0;1;N;3;/;2;0查看分类表>
申请人华中科技大学;广东思谷智能技术有限公司申请人地址
湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华中科技大学,广东思谷智能技术有限公司当前权利人华中科技大学,广东思谷智能技术有限公司
发明人徐洲龙;陈建魁;谭万洲;丁汉;尹周平
代理机构华中科技大学专利中心代理人梁鹏
摘要
本发明属于柔性电子测试相关技术领域,并公开一种柔性电子抗拉伸与抗挠曲性能测试系统,其包括控制模块、数据采集模块和测试模块,其中测试模块密封包括两个固定芯轴单元和两个弯曲芯轴单元,每个固定芯轴单元起固定和拉伸柔性电子作用且具有X方向的自由度,并可装有张力传感器;每个弯曲芯轴单元可实现给定芯轴半径的弯曲且具有X、Y方向的自由度,并可装有压力传感器和CCD相机。通过本发明的四个芯轴单元的组合,可实现恒定张力、弯曲压力、测试温度,弯曲半径、弯曲速度和弯曲角度可调的C型、S型和G型等复杂曲面抗挠曲测试,也可实现抗拉伸性能测试,有效解决了现有装置只能进行简单C型测试,测试条件不定量导致测试数据不准确等缺陷。

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