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局部阈值分割方法及缺陷检测方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201911107473.0
  • IPC分类号:G06T7/00;G06T7/136;G06T7/187
  • 申请日期:
    2019-11-13
  • 申请人:
    易思维(杭州)科技有限公司
著录项信息
专利名称局部阈值分割方法及缺陷检测方法
申请号CN201911107473.0申请日期2019-11-13
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-04-24公开/公告号CN111062910A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06T7/00IPC分类号G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;1;3;6;;;G;0;6;T;7;/;1;8;7查看分类表>
申请人易思维(杭州)科技有限公司申请人地址
浙江省杭州市滨江区滨安路1197号3幢495室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人易思维(杭州)科技有限公司当前权利人易思维(杭州)科技有限公司
发明人周鹏;叶琨;郭寅
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明公开了一种局部阈值分割方法及缺陷检测方法,包括在图像的起始位置处选取初始的中心标记点;以所述中心标记点为中心设置局部选区A和选区B,所述选区B为选区A的子区域,计算中心标记点处的阈值:根据阈值对该点进行二值化处理;沿图像坐标系的方向,将标记点的下一个像素点或将与中心标记点距离t的像素点记为新的中心标记点,对新的中心标记点重复进行二值化,直到完成整幅图像的阈值分割;本方法对于低对比度、细小缺陷的图像检测,具有明显的优势,实时性好,适用于工业现场对于产品质量的监测。

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