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集成电路翻面装置及控制方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201210174851.9
  • IPC分类号:B65G47/248;B65G43/00;G01R31/28
  • 申请日期:
    2012-05-28
  • 申请人:
    杭州长川科技有限公司
著录项信息
专利名称集成电路翻面装置及控制方法
申请号CN201210174851.9申请日期2012-05-28
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2012-11-14公开/公告号CN102774634A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B65G47/248IPC分类号B;6;5;G;4;7;/;2;4;8;;;B;6;5;G;4;3;/;0;0;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人杭州长川科技有限公司申请人地址
浙江省杭州市滨江区滨安路1180号华业高科技产业园3号楼6楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人杭州长川科技股份有限公司当前权利人杭州长川科技股份有限公司
发明人叶键波;韩笑;钟锋浩;刘海瑞
代理机构杭州杭诚专利事务所有限公司代理人尉伟敏
摘要
本发明涉及集成电路测试设备领域,目的是提供一种集成电路翻面效率高且利于组织集成电路测试流水作业的集成电路翻面装置及控制方法。一种集成电路翻面装置包括设有转轴的旋转座、旋转驱动机构、挡板、入料轨道和底座;旋转座设有沿圆周方向分布的至少两个集成电路容置通孔;挡板设有出料通孔;转轴与底座枢接,入料轨道和挡板分别位于旋转座的相对两侧并与底座固定连接;转动驱动机构分别与旋转座和底座固定连接;集成电路翻面装置设有用于控制入料轨道向旋转座送料的送料机构和检测旋转座转动角度的转角检测机构。该集成电路翻面装置使集成电路翻面效率高且利于组织集成电路测试的流水作业且控制方法简单实用。

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