离子迁移率谱仪

发明专利有效专利

申请号：
CN200880006691.9
IPC分类号：H01J49/00
申请日期：
2008-03-06
申请人：
史密斯探测-沃特福特有限公司

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著录项信息

专利名称	离子迁移率谱仪
申请号	CN200880006691.9	申请日期	2008-03-06
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-02-10	公开/公告号	CN101647086
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01J49/00 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01J 放电管或放电灯（火花隙入H01T；消耗电极的弧光灯入H05B；粒子加速器入H05H） H01J49/00 粒子分光仪或粒子分离管〔3〕	IPC分类号	H;0;1;J;4;9;/;0;0查看分类表>
申请人	史密斯探测-沃特福特有限公司	申请人地址	英国赫特福德郡变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	史密斯探测-沃特福特有限公司	当前权利人	史密斯探测-沃特福特有限公司
发明人	J·R·阿特金森
代理机构	北京润平知识产权代理有限公司	代理人	周建秋;王凤桐

摘要

一种离子迁移率谱仪，该离子迁移率谱仪具有通过静电门(21)而与漂移区(20)分开的反应区(5)。掺杂回路(8)向所述反应区(5)提供掺杂剂，而所述漂移区(20)是不掺杂的。两个高电场离子改性器(30和31)相继地设置在所述漂移区(20)内。可以开启一个离子改性器(30)，以从接纳的离子中除去掺杂剂加合物；或者开启两个离子改性器(30和31)，以使所述离子同时被碎裂。通过该方式，可以产生多种不同的响应，从而提供关于分析物质的特性的额外信息，并区分出干扰物。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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