一种基于k‑means聚类分析的配电网故障选线方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510271056.5
IPC分类号：G01R31/08
申请日期：
2015-05-25
申请人：
昆明理工大学

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著录项信息

专利名称	一种基于k‑means聚类分析的配电网故障选线方法
申请号	CN201510271056.5	申请日期	2015-05-25
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-09-09	公开/公告号	CN104898021A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/08 探测电缆、传输线或网络中的故障	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;8查看分类表>
申请人	昆明理工大学	申请人地址	云南省昆明市五华区学府路253号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	昆明理工大学	当前权利人	昆明理工大学
发明人	束洪春;高利
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及一种基于k‑means聚类分析的配电网故障选线方法，具体为沿谐振接地系统中线路设置故障位置，并由电磁暂态仿真获得故障电流曲线簇作为样本数据，选取故障后5ms内的零序电流，采用db小波对其进行6层小波分解，计算出全频带下的暂态零序电流总能量；同时，计算出综合小波能量相对熵，将暂态零序电流总能量及综合小波能量相对熵这两个维度作为表征故障特征的测度，并将其映射到二维平面上；再采用k‑means聚类分析算法计算出上述数据在二维平面上的聚类中心，然后在聚类空间中，故障线路形成一个聚类中心，未故障线路形成一个聚类中心，选线元件故障启动后，取5ms时窗内故障电流数据作为测试样本，并根据测试数据与两类聚类中心的欧氏距离来判断出该线路是否故障。

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