一种有源天线系统射频指标及无线指标的测试方法与装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201210264184.3
IPC分类号：G01R31/00;H04B17/318
申请日期：
2012-07-27
申请人：
中兴通讯股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种有源天线系统射频指标及无线指标的测试方法与装置
申请号	CN201210264184.3	申请日期	2012-07-27
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-12-19	公开/公告号	CN102830298A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;H;0;4;B;1;7;/;3;1;8查看分类表>
申请人	中兴通讯股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中兴通讯股份有限公司	当前权利人	中兴通讯股份有限公司
发明人	王博明;李香玲;郭险峰;王鹏
代理机构	北京安信方达知识产权代理有限公司	代理人	吴艳;龙洪

摘要

本发明公开了一种有源天线系统射频指标及无线指标的测试方法与装置，采用基于近场耦合方式的一种探针式的测试罩，对被测有源天线系统的射频指标进行测试，包括：测试罩单体校准；测试罩环境校准；射频指标测试，将被测有源天线系统置于测试罩中，测试环境与校准环境相同，根据校准得到的校准结果对测试环境进行补偿后，通过测试探针的射频端口对被测有源天线系统进行射频测试。本发明同时提出一种综合的测试方法，分别采用空间射频(OTA)测试对有源天线系统的空间特性进行测试，采用近场耦合方式对有源天线系统的射频指标进行测试，充分结合了两种测试方法的优点，克服了两者的缺陷和问题，从而在测试效率和测试成本上达到最优化。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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