芯片系统级测试方法、装置及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202011499323.1
IPC分类号：G06F11/22;G06K9/62
申请日期：
2020-12-17
申请人：
海光信息技术股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	芯片系统级测试方法、装置及系统
申请号	CN202011499323.1	申请日期	2020-12-17
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-04-06	公开/公告号	CN112612661A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/22 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/22 在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位〔3，2006.01〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;2;2;;;G;0;6;K;9;/;6;2查看分类表>
申请人	海光信息技术股份有限公司	申请人地址	天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	海光信息技术股份有限公司	当前权利人	海光信息技术股份有限公司
发明人	马越;桂晓峰;李育飞;徐宏思
代理机构	北京市广友专利事务所有限责任公司	代理人	张仲波

摘要

本发明公开的芯片系统级测试方法、装置及系统，属于芯片测试技术领域。其中所述测试方法包括：当测试服务器接收到用户提交的芯片的测试需求信息时，根据所述测试需求信息进行测试初始化；给测试主机上的放置有待测芯片的测试主板上电，并接收所述测试主机返回的芯片信息；根据所述芯片信息从数据库中下载与其对应的之前站别的测试结果数据，根据所述测试需求信息和所述测试结果数据生成定制化的芯片参数，发送给测试主机写入到待测芯片中；当所述测试服务器接收到所述测试主机反馈的测试结果数据时，将所述测试结果数据上传至数据库中，根据所述测试结果数据和预设分类规则对待测芯片进行分类。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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