涡流探伤方法和涡流探伤装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201310156099.X
IPC分类号：G01N27/90
申请日期：
2013-04-28
申请人：
码科泰克株式会社

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著录项信息

专利名称	涡流探伤方法和涡流探伤装置
申请号	CN201310156099.X	申请日期	2013-04-28
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2013-10-30	公开/公告号	CN103376290A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N27/90 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N27/00 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 25/00优先；电或磁变量的测量或试验，材料的电磁性能的测试或试验入G01R） G01N27/72 通过测试磁变量 G01N27/82 用于测试缺陷的存在 G01N27/90 利用涡流〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;7;/;9;0查看分类表>
申请人	码科泰克株式会社	申请人地址	日本国东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	码科泰克株式会社	当前权利人	码科泰克株式会社
发明人	松崎秀树;鱼地真道;佐佐武彦;斋藤直树
代理机构	隆天知识产权代理有限公司	代理人	聂宁乐;浦柏明

摘要

提供涡流探伤方法和涡流探伤装置。在对像钢轨的轨头发裂那样的以在涡流探伤探头的分辨率以下的很短的间隔密集的缺陷进行探伤的涡流探伤方法中，针对每个缺陷评价缺陷的深度。像图2C那样在位置n以规定的间隔排列图2A的基准信号，对各基准信号的振幅进行调整，以使得调整了各基准信号的振幅之后所合成的基准信号的合成信号与实际缺陷的合成涡流探伤信号一致，求出在基准信号的合成信号与实际缺陷的合成涡流探伤信号最为一致时的基准信号的振幅调整值，利用振幅调整值评价实际缺陷。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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