集成电路动态时序检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201110078699.X
IPC分类号：G06F17/50
申请日期：
2011-03-30
申请人：
山东华芯半导体有限公司;西安华芯半导体有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	集成电路动态时序检测方法
申请号	CN201110078699.X	申请日期	2011-03-30
法律状态	暂无	申报国家	暂无
公开/公告日	2011-11-23	公开/公告号	CN102254055A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F17/50 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F17/00 特别适用于特定功能的数字计算设备或数据处理设备或数据处理方法〔6〕 G06F17/50 计算机辅助设计（静态存储的测试电路的设计入G11C 29/54）〔6，8〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;7;/;5;0查看分类表>
申请人	山东华芯半导体有限公司;西安华芯半导体有限公司	申请人地址	陕西省西安市高新6路38号腾飞创新中心A座4层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安紫光国芯半导体有限公司	当前权利人	西安紫光国芯半导体有限公司
发明人	王斌;谈杰
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司	代理人	徐平;王少文

摘要

本发明目的是提供一种集成电路动态时序检测方法，其解决了现有静态时序验证工具不能在正常仿真工作状态下进行时序验证且无法自定义时序验证的器件的种类和数目的技术问题。该集成电路动态时序检测方法，包括以下步骤：1)设计功能仿真开始；2)记录检测时间点；3)计算数据：4)重复步骤2和步骤3，直至功能仿真完成。本发明可在芯片的正常仿真工作状态下检查器件数据信号对时钟信号的建立和保持时间，更符合实际情况，更合理。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供