光学校准机自动测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN02141184.0
IPC分类号：--
申请日期：
2002-07-09
申请人：
建兴电子科技股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	光学校准机自动测量方法
申请号	CN02141184.0	申请日期	2002-07-09
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2004-01-14	公开/公告号	CN1467478
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	建兴电子科技股份有限公司	申请人地址	中国台湾变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	建兴电子科技股份有限公司	当前权利人	建兴电子科技股份有限公司
发明人	陈汉钊;陈徵君;陈伯睿
代理机构	隆天国际知识产权代理有限公司	代理人	楼仙英;陈红

摘要

本发明是有关一种光学校准机自动测量方法，是使该光学校准机在测量待测物程序中，可由程序自行判断是否测量的方法，它是在电荷耦合组件模块拍摄待测物的画面后，该程序即会利用影像处理方法自行判断该电荷耦合组件模块所拍摄的画面是否有反射亮点，而自动进行测量，其中，所述的光学校准机是具有光学测量的机器，该机器可应用于光驱的测量及组装，且所述的待测物为具有镜面的对象。由于可由该程序判断有亮点后即自行进行测量，因此不用担心使用者是否忘了要按执行指令开关，并可节省测量程序，避免该使用者操作不当或忽略步骤操作。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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