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抗单粒子翻转可置位和复位的扫描结构D触发器

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201110323896.3
  • IPC分类号:H03K3/013;H03K19/003;H03K3/02
  • 申请日期:
    2011-10-21
  • 申请人:
    中国人民解放军国防科学技术大学
著录项信息
专利名称抗单粒子翻转可置位和复位的扫描结构D触发器
申请号CN201110323896.3申请日期2011-10-21
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2012-03-28公开/公告号CN102394599A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H03K3/013IPC分类号H;0;3;K;3;/;0;1;3;;;H;0;3;K;1;9;/;0;0;3;;;H;0;3;K;3;/;0;2查看分类表>
申请人中国人民解放军国防科学技术大学申请人地址
湖南省长沙市开福区德雅路109号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国人民解放军国防科学技术大学当前权利人中国人民解放军国防科学技术大学
发明人刘宗林;池雅庆;李鹏;梁斌;刘必慰;胡春媚;陈建军;何益百;杜延康;秦军瑞
代理机构国防科技大学专利服务中心代理人郭敏
摘要
本发明公开了一种抗单粒子翻转可置位和复位的扫描结构D触发器,目的是提高抗单粒子翻转可置位和复位的扫描结构D触发器的抗单粒子翻转能力。它由时钟电路、扫描控制缓冲电路、复位缓冲电路、主锁存器、从锁存器和输出缓冲电路组成;主锁存器由二十个PMOS管和二十个NMOS管组成,从锁存器由十个PMOS管和十个NMOS管组成,主锁存器和从锁存器均进行了双模冗余加固,且主锁存器和从锁存器中C2MOS电路结构均进行了改进,即分离互为冗余的C2MOS电路中的上拉电路和下拉电路。本发明的抗单粒子翻转能力强,适合用于抗单粒子翻转加固集成电路的标准单元库,应用于航空、航天等领域。

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