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1.3微米高密度量子点结构及其制备方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200410009992.0
  • IPC分类号:C09K11/74
  • 申请日期:
    2004-12-09
  • 申请人:
    中国科学院半导体研究所
著录项信息
专利名称1.3微米高密度量子点结构及其制备方法
申请号CN200410009992.0申请日期2004-12-09
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2006-06-14公开/公告号CN1786107
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C09K11/74IPC分类号C;0;9;K;1;1;/;7;4查看分类表>
申请人中国科学院半导体研究所申请人地址
北京市海淀区清华东路甲35号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院半导体研究所当前权利人中国科学院半导体研究所
发明人牛智川;方志丹;倪海桥;韩勤;龚政;张石勇;佟存柱;彭红玲;吴东海;赵欢;吴荣汉
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人汤保平
摘要
一种1.3微米高密度量子点结构,其特征在于,包括:一砷化镓过渡层;一第一砷化镓势垒层,该第一砷化镓势垒层制作在砷化镓过渡层上;一砷化铟自组织量子点,该砷化铟自组织量子点制作在第一砷化镓势垒层上;一铟镓砷覆盖层,该铟镓砷覆盖层制作在砷化铟自组织量子点上;一第二砷化镓势垒层,该第二砷化镓势垒层制作在铟镓砷覆盖层上;一砷化镓覆盖层,该砷化镓覆盖层制作在第二砷化镓势垒层上。

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