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阵列基板、显示装置以及传感器电极的检查方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201710479813.7
  • IPC分类号:G06F3/044
  • 申请日期:
    2017-06-22
  • 申请人:
    株式会社日本显示器
著录项信息
专利名称阵列基板、显示装置以及传感器电极的检查方法
申请号CN201710479813.7申请日期2017-06-22
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2018-01-05公开/公告号CN107544720A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F3/044IPC分类号G;0;6;F;3;/;0;4;4查看分类表>
申请人株式会社日本显示器申请人地址
日本东京 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人株式会社日本显示器当前权利人株式会社日本显示器
发明人福岛俊明
代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司代理人张永明
摘要
本申请公开了一种小型的阵列基板、显示装置以及传感器电极的检查方法。阵列基板具备:基板;传感器电极,配置于所述基板,用于检测静电电容的变化;以及引出布线,能够与所述传感器电极电连接,并且引出至所述基板的端部。

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