轴向变形引伸计的定位装置及定位方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010387162.0
IPC分类号：G01N3/02;G01N3/06;G01N3/08
申请日期：
2020-05-09
申请人：
华侨大学

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著录项信息

专利名称	轴向变形引伸计的定位装置及定位方法
申请号	CN202010387162.0	申请日期	2020-05-09
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2020-07-24	公开/公告号	CN111442971A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N3/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N3/00 用机械应力测试固体材料的强度特性 G01N3/02 零部件	IPC分类号	G;0;1;N;3;/;0;2;;;G;0;1;N;3;/;0;6;;;G;0;1;N;3;/;0;8查看分类表>
申请人	华侨大学	申请人地址	福建省泉州市丰泽区城东城华北路269号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华侨大学	当前权利人	华侨大学
发明人	陈士海;宫嘉辰;刘闽龙
代理机构	厦门市首创君合专利事务所有限公司	代理人	张松亭

摘要

本发明公开了轴向变形引伸计的定位装置及定位方法，它包括可分别固接在岩样上下端部的上压垫和下压垫，上压垫设有若干个径向向外延伸且位于同一水平面的上定位部，下压垫设有若干个径向向外延伸且位于同一水平面的下定位部；轴向变形引伸计侧壁设有若干个上定位配合部和若干个下定位配合部，当轴向变形引伸计套置在岩样外时可通过上定位配合部与上定位部的一一对应的定位配合、下定位配合部与下定位部的一一对应的定位配合以使轴向变形引伸计能快速的水平定位。该定位装置使得轴向变形引伸计能快速的水平定位，有利于减小室内岩石三轴压缩试验的测量误差，且大大节约岩样的安装时间。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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