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三维测量系统与三维测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201210128811.0
IPC分类号：G01B11/25;G01B11/02
申请日期：
2012-04-20
申请人：
德律科技股份有限公司

基础信息

权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	三维测量系统与三维测量方法
申请号	CN201210128811.0	申请日期	2012-04-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-10-30	公开/公告号	CN103376071A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/25 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/24 用于计量轮廓或曲率 G01B11/25 通过在物体上投影一个图形，例如莫尔（moiré）条纹（G01B 11/255优先）〔7〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;5;;;G;0;1;B;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	德律科技股份有限公司	申请人地址	中国台湾台北市士林区徳行西路45号7楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	德律科技股份有限公司	当前权利人	德律科技股份有限公司
发明人	余良彬;林栋
代理机构	北京律诚同业知识产权代理有限公司	代理人	徐金国

摘要

本发明揭露一种三维测量系统以及三维测量方法，其设置有两组以上的投影模块，投影模块可利用不同的入射角度将条纹光线投射至测量平面上，随着入射角度的不同，使条纹光线在测量平面上具有不同的投影波长。或是，不同投影模块的光栅单元的光栅条纹彼此不平行，利用各光栅条纹间的偏转角度，使条纹光线在测量平面上具有不同的投影波长。

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