基于位图追踪法的双探针自动测试平台的样品测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201310605935.8
IPC分类号：G01R31/00;G01R1/04;G01R1/073
申请日期：
2013-11-26
申请人：
南通大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	基于位图追踪法的双探针自动测试平台的样品测试方法
申请号	CN201310605935.8	申请日期	2013-11-26
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2014-02-19	公开/公告号	CN103592548A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;1;/;0;4;;;G;0;1;R;1;/;0;7;3查看分类表>
申请人	南通大学	申请人地址	江苏省南通市啬园路9号南通大学电子信息学院变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南通大学	当前权利人	南通大学
发明人	王强;花国然;张士兵;程实;徐影;邓洁
代理机构	南京同泽专利事务所（特殊普通合伙）	代理人	石敏

摘要

一种基于位图追踪法的双探针自动测试平台，主要包括底座、承载台、第一探针支架、第二探针支架、主控计算机、驱动所述承载台在水平面内旋转和抬升的第一驱动机构、设置于承载台上方且拍摄方向朝下的摄像头，承载台可以旋转和抬升，并且能够在Y轴方向移动；第一、第二探针支架可以水平同向移动及水平镜像对称移动。本发明利用位图控制技术实现双探针的自动定位，从而实现样品两个测试点的自动化定位测试，大大降低了测试人员的劳动强度，提高了测试准确性；本发明定位方式新颖，巧妙地运用转动可移动式承载台、可移动对称张开式双探针支架，能够将探针定位至待测样品的任意两个测试点，使本发明双探针自动测试平台能够满足测试需要。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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