一种用于研究平板结构热障涂层界面屈曲破坏的热障涂层试样的制备工艺

发明专利无效专利

申请号：
CN200810143457.2
IPC分类号：G01N1/28;G01N3/08;G01N3/60;G01N19/08
申请日期：
2008-10-31
申请人：
湘潭大学

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著录项信息

专利名称	一种用于研究平板结构热障涂层界面屈曲破坏的热障涂层试样的制备工艺
申请号	CN200810143457.2	申请日期	2008-10-31
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2009-04-01	公开/公告号	CN101398351
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N1/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N1/00 取样；制备测试用的样品（用于自动分析的材料处理入G01N 35/00） G01N1/28 测试用样品的制备（将样品安装在显微镜载片上入G02B 21/34；电子显微镜中支承被分析的物品或材料的装置入H01J 37/20）	IPC分类号	G;0;1;N;1;/;2;8;;;G;0;1;N;3;/;0;8;;;G;0;1;N;3;/;6;0;;;G;0;1;N;1;9;/;0;8查看分类表>
申请人	湘潭大学	申请人地址	湖南省湘潭市雨湖区羊牯塘湘潭大学变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	湘潭大学	当前权利人	湘潭大学
发明人	毛卫国;戴翠英;周益春
代理机构	长沙市融智专利事务所	代理人	颜勇

摘要

本发明公开了一种用于研究平板结构热障涂层界面屈曲破坏的热障涂层试样的制备工艺，即采用等离子喷涂工艺制备了含内埋界面缺陷的热障涂层实验试样。界面缺陷被设计在陶瓷层和粘结层之间，可以任意设置界面缺陷的长度和宽度数值，它的存在就隔离了陶瓷层与粘结层的直接结合，严重影响了陶瓷层与粘结层的结合性能，进而可以确定在这样的位置处其界面结合强度明显低于其它界面区域，因此本发明的制备工艺为研究陶瓷层界面屈曲破坏的试样制备提供了一种新的思路。其优点是采用该工艺制备的试样很好地解决了在实际研究中无法准确地预测热障涂层界面裂纹具体形成时间和位置，也对今后研究薄膜/涂层系统的界面屈曲问题提供良好的基础和经验借鉴。

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