二维散斑数字相关技术的光学镜面变形测量装置和方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510810141.4
IPC分类号：G01B11/16;G01M11/02
申请日期：
2015-11-20
申请人：
北京理工大学

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著录项信息

专利名称	二维散斑数字相关技术的光学镜面变形测量装置和方法
申请号	CN201510810141.4	申请日期	2015-11-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-02-03	公开/公告号	CN105300307A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/16 用于计量固体的变形，例如光学应变仪	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;1;6;;;G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街5号北京理工大学变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	胡摇;郝群
代理机构	北京理工正阳知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	唐华

摘要

本发明涉及一种利用二维散斑数字相关技术测量光学镜面变形的装置和方法，属于光电技术领域。该系统利用液晶显示器显示人造散斑图，经被测镜面反射后由相机记录。当镜面发生变形时，记录下的散斑图会发生位移和变形。利用二维数字图像相关技术可测得散斑位移，然后求得相对应的反射光线方向变化，进而求得被测面法线方向变化，最后求得变形量。该方法利用普通的液晶显示器和相机即可实现平面、球面、非球面等多种光学镜面光波长量级的变形量高精度实时测量，系统结构和算法均非常简单，其精度可与干涉仪媲美。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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