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基于FPGA的多接口存储器验证系统

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201010022919.2
  • IPC分类号:G11C29/56
  • 申请日期:
    2010-01-18
  • 申请人:
    华东师范大学
著录项信息
专利名称基于FPGA的多接口存储器验证系统
申请号CN201010022919.2申请日期2010-01-18
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2010-07-07公开/公告号CN101770817A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G11C29/56IPC分类号G;1;1;C;2;9;/;5;6查看分类表>
申请人华东师范大学申请人地址
上海市闵行区东川路500号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华东师范大学当前权利人华东师范大学
发明人韩定定;石山;钟慧敏;杨晓;葛勇;张立为
代理机构上海蓝迪专利事务所代理人徐筱梅
摘要
本发明公开了一种基于FPGA的多接口存储器验证系统,系统包括ARM模块和FPGA模块,两模块之间以总线方式连接,采用FPGA端模拟SRAM外部存储器方式,将FPGA内控制器逻辑映射到ARM内存中来提供数据和控制的访问接口;系统采用异步总线通讯方式,将ARM输出的异步控制信号、异步地址及数据信号同步到FPGA的内部时钟域中;系统存储器数据、控制接口统一采用存储器数据直接映射方式,使各存储器控制器IP核移植集成于系统中;数据访问接口以先进先出形式实现。本发明能灵活地支持最新接口类型的存储器,在最短的时间内对最新的存储器芯片进行测试、验证以及同时进行多种类型的芯片测试及演示,大大缩短了新型存储芯片投入实际使用的时间周期。

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