一种用于文字压痕的三维显现方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201410349840.9
IPC分类号：G01B11/25
申请日期：
2014-07-22
申请人：
电子科技大学

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著录项信息

专利名称	一种用于文字压痕的三维显现方法
申请号	CN201410349840.9	申请日期	2014-07-22
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2014-10-15	公开/公告号	CN104101310A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/25 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/24 用于计量轮廓或曲率 G01B11/25 通过在物体上投影一个图形，例如莫尔（moiré）条纹（G01B 11/255优先）〔7〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;5查看分类表>
申请人	电子科技大学	申请人地址	四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	电子科技大学	当前权利人	电子科技大学
发明人	岳慧敏;吴雨祥;赵必玉;张博;易京亚;李明阳;刘永
代理机构	成都华典专利事务所（普通合伙）	代理人	徐丰

摘要

本发明提供了一种用于文字压痕的三维显现方法，该方法将相位测量轮廓术用于文件隐藏印压痕迹的显现测量中。基于相位测量轮廓术的物体表面三维面形测量方法是一种高精度、快速、非接触、非相干的光学全场测量技术，并且实验装置简单，主要包括计算机、数码相机和投影仪。将相位测量轮廓术用于文字压痕显现测量中可以直接得到待测表面的高度分布，从而定量的获得待测表面的文字痕迹，利用得到的高度数据可以识别待测表面的潜在文字，同时也可以根据字体的形状以及字体不同位置的深浅进行字迹比对检测，从而判定文字的写作者，在司法鉴定上有重要应用。本发明的主要增益：提供了一种高精度、快速、全场的文字压痕的测量方法。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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