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化学机械平坦化方法和后金属栅的制作方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201010567260.9
  • IPC分类号:H01L21/3105;H01L21/265
  • 申请日期:
    2010-11-30
  • 申请人:
    中国科学院微电子研究所
著录项信息
专利名称化学机械平坦化方法和后金属栅的制作方法
申请号CN201010567260.9申请日期2010-11-30
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2012-05-30公开/公告号CN102479701A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/3105
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IPC结构图谱:
IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;3;1;0;5;;;H;0;1;L;2;1;/;2;6;5查看分类表>
申请人中国科学院微电子研究所申请人地址
北京市朝阳区北土城西路3号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院微电子研究所当前权利人中国科学院微电子研究所
发明人杨涛;刘金彪;贺晓彬;赵超;陈大鹏
代理机构北京集佳知识产权代理有限公司代理人逯长明;王宝筠
摘要
本发明提供一种化学机械平坦化方法和后金属栅的制作方法,所述化学机械平坦化的方法包括:提供具有栅极和栅极两侧的源漏区的基底,栅极和源漏区上覆盖有隔离层,隔离层包括位于栅极上方的凸起部和位于栅极之间基底表面上的凹陷部;对隔离层进行选择性掺杂工艺,仅使得凸起部被掺杂;对掺杂后的基底进行CMP工艺,去除凸起部并使基底表面平坦化。所述方法通过对隔离层进行选择性掺杂工艺,仅使得隔离层的凸起部被掺杂,会增强CMP工艺中研磨液对凸起部材料的化学腐蚀作用,提高CMP工艺过程对凸起部材料的移除速率,从而改善研磨过程的芯片内的均匀性,进而在后栅形成过程中,栅极之间的隔离层内不会有残余金属,能够避免器件的短路缺陷。

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