加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

基于增强约束稀疏回归的半监督高光谱亚像元目标检测法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201110443968.8
  • IPC分类号:G01V8/02;G01C11/00;G06K9/00
  • 申请日期:
    2011-12-27
  • 申请人:
    南京理工大学
著录项信息
专利名称基于增强约束稀疏回归的半监督高光谱亚像元目标检测法
申请号CN201110443968.8申请日期2011-12-27
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2012-07-04公开/公告号CN102540271A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01V8/02IPC分类号G;0;1;V;8;/;0;2;;;G;0;1;C;1;1;/;0;0;;;G;0;6;K;9;/;0;0查看分类表>
申请人南京理工大学申请人地址
江苏省南京市孝陵卫200号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人南京理工大学当前权利人南京理工大学
发明人宋义刚;吴泽彬;韦志辉;孙乐;刘建军
代理机构南京理工大学专利中心代理人朱显国
摘要
本发明公开了一种基于增强约束稀疏回归半监督高光谱亚像元目标检测法,本发明利用增强的约束稀疏回归方法提高高光谱混合像元分解的精度和稳定性,应用广义似然比检验的理论建立区分目标像元与背景像元的统计模型,两者结合应用既能定量检测目标分布,又能有效提高探测率、降低虚警率。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供