集成电路器件测试处理机

发明专利无效专利

申请号：
CN96111968.3
IPC分类号：--
申请日期：
1996-08-30
申请人：
株式会社信浓电子

基础信息

权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	集成电路器件测试处理机
申请号	CN96111968.3	申请日期	1996-08-30
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	1997-07-02	公开/公告号	CN1153308
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	株式会社信浓电子	申请人地址	日本长野县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社信浓电子	当前权利人	株式会社信浓电子
发明人	伊藤正人
代理机构	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所	代理人	陈申贤

摘要

一具有恒温室的IC测试处理机包括：6个行星式IC支持架71；一行星式支持架排列机构72；和一使机构72间歇转动的间歇驱动机构。每个IC支持架相对行星轴71a有4个旋转对称表面用作IC的支持部。IC支持架在机构72内环状排列并绕一太阳轴72a转动，间歇驱动机构间歇地使机构72每次转动60°，当每个支持架71沿逆时针转过一圈时也绕其自身轴转动90°，24个间歇操作后IC支持部上的IC4c回至初始位置，于是恒温室内预热的IC数目增加了，预热时间也得以延长。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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