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android平台上利用点对点射频设备进行ADB调试的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201310139521.0
  • IPC分类号:H04L12/26;G06F11/26
  • 申请日期:
    2013-04-19
  • 申请人:
    福州瑞芯微电子有限公司
著录项信息
专利名称android平台上利用点对点射频设备进行ADB调试的方法
申请号CN201310139521.0申请日期2013-04-19
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2013-08-28公开/公告号CN103269291A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04L12/26IPC分类号H;0;4;L;1;2;/;2;6;;;G;0;6;F;1;1;/;2;6查看分类表>
申请人福州瑞芯微电子有限公司申请人地址
福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人福州瑞芯微电子股份有限公司当前权利人福州瑞芯微电子股份有限公司
发明人林涛
代理机构福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙)代理人宋连梅
摘要
本发明提供一种android平台上利用点对点射频设备进行ADB调试的方法,所述方法需提供一调试设备和带android平台的被调试设备,所述调试设备包括:指令输入模块、点对点射频设备以及数据解析模块;所述被调试设备包括:数据存储模块、调试工具ADB、点对点射频设备以及指令解析模块;通过点对点射频设备来获取调试命令后,被调试设备通过指令解析模块进行解析调试命令,并将解析后的调试命令发给调试工具ADB进行调试。本发明可以在现有的调试技术手段都失效的情况下,也能对android平台的被调试设备进行调试;且操作简单,调试效率快。

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