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一种集成电路测试定位装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201821840260.X
  • IPC分类号:G01R1/04
  • 申请日期:
    2018-11-09
  • 申请人:
    深圳润信通科技有限公司
著录项信息
专利名称一种集成电路测试定位装置
申请号CN201821840260.X申请日期2018-11-09
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R1/04IPC分类号G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人深圳润信通科技有限公司申请人地址
广东省深圳市南山区西丽街道新围社区沙河西路鼎新大厦东1201 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳润信通科技有限公司当前权利人深圳润信通科技有限公司
发明人程黎明;李明铭
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本实用新型公开了一种集成电路测试定位装置,包括固定组件和调节组件,所述固定组件包括夹持板、安装板、螺栓和测试芯片,所述夹持板位于所述安装板的两侧,且所述夹持板滑动连接于所述安装板,所述夹持板和实施安装板之间形成卡槽,所述测试芯片收容于所述卡槽内部,且所述测试芯片插接所述卡槽;当调节杆在进行移动后,便可使夹持板脱离安装板,使卡槽的面积增大,进而使测试芯片能够顺利的安装于卡槽内部,安装过后,再次转动调节旋钮,便可使夹持板靠近安装板,对测试芯片进行夹持,进而使不同信号的芯片根据调节旋钮的调节便可夹持在安装板上,并且利用调节旋钮的转动,使测试芯片的安装和夹持更加方便,避免了不必要的麻烦和时间的浪费。

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